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磁珠(Ferrite Bead,简写FB)是一种电子被动元器件(passive component:在电路中有信号通过,就能完成规定功能,不需要外加激励电源。),是由铁氧体等磁性材料制造成,具有高电阻率ρ(Resistivity:物质电阻特性,单位Ω·m)和磁导率μ(magnetic permeability:μ=B/H,其中H=磁场强度,B=磁感应强度,单位是H/m),Ferrite Bead单位是欧姆。
其在高频时阻抗很大,可抑制高频噪声和尖峰干扰,被大范围的使用在信号线和电源线上,用来解决辐射和干扰问题。
磁珠额定电流:在正常工作条件下,磁珠能够持续安全通过的最大电流(与电感一样,也叫温升电流,一般指自我温升不超过20°C~40℃的电流,不同厂家标的温升温度不一样)。在选择磁珠时,应确保电路的最大电流低于磁珠的额定电流,以避免磁珠过热或磁饱和,通常考虑余量设计,最好预留多三分之一,多多益善(在电源上使用磁珠时,要考虑直流偏置特性,即余量要留得更多,如预留多三分之二)。
如果考虑线路上的通流量不够,不建议采用两个磁珠并联,由于磁珠模型的感抗和容抗的不同,使得电流不会平均从两个磁珠通过,即可选择更高规格的磁珠。
在信号线上使用磁珠,就不用考虑额定电流,而在电源上使用就需要仔细考虑额定电流。
直流导通电阻DCR:指DC电流通过磁珠时,磁珠呈现的电阻值。用在电源上的磁珠,DCR是很关键的参数。例如,在核电压1V上使用了0.2R的磁珠,而该核电压峰值电流达到3A,那么磁珠的压降0.2x3=0.6V,电压值只有原来的十分之六了,肯定会导致电压异常,比如死机、重启、不开机之类。
一般磁珠的阻抗越大,其直流导通电阻DCR也大,则会导致过流能力小,即额定电流小。
标称阻抗Z是指磁珠在100MHz下的阻抗值,包含实部和虚部,即Z=R+jX。一般磁珠规格书上的标称阻抗Z是在零直流偏置的条件下测试的。
另外,磁珠规格书的标称阻抗值是在温度85度下的测试值。随着温度的继续升高,磁珠阻抗值会降低,要进一步考虑降额设计。
例如,根据谐振频率计算f=1/(2Π*Sqrt(LC)),如果在电源线路上的磁珠后面放置的是nF级电容,很容易产生谐振,如跟电源开关频率或干扰频率接近,那么导致噪声就会变大。如果把电容加大到uF级别,其谐振频率降得很低。即,磁珠后面最好放置一颗uF级电容(在电源线路上),而信号线上没有放置大电容时,要注意磁珠参数导致的谐振。
在磁珠呈阻性时,电阻R大于感抗X,在电磁干扰EMI使用时,滤除的辐射或干扰频率要在阻性区内,其可有效地吸收并转换成热能的形式耗散掉,即使得磁珠是吸收噪声而不是反射噪声。阻性区域出现在磁珠交越频率 (X = R) 之后,直至磁珠变为容性(容性电抗-X 绝对值等于 R 的频率处)的那一点为止。
电阻器是耗能元件,是阻抗的实数部分(电阻);电容器和电感器是储能元件,是阻抗的虚数部分(电抗),即磁珠标称阻抗Z=R+jX。
在电路设计中,电感主要有三大类应用:功率电感:用于DCDC上的电压转换,通过积累并释放能量来保持连续的电流。
去耦电感:通常是共模电感或差模电感,用于滤除电源线或信号线上的噪声。高频电感:用于射频电路,实现偏置、匹配、滤波等电路。
磁珠是将电能转换为热能(磁珠呈阻性频带内),不会对电路构成二次干扰,主要用在EMI及电源高频滤波上,像一些RF电路,PLL,震荡电路,含超高频存储器电路。
在磁珠厂家的官网上都有不同的分类和选型目录,例如:1、顺络:叠层磁珠一般用(低速信号线用,高速信号线用,电源线用,高频噪声抑制用,音频磁珠);绕线磁珠(高频噪声抑制用);叠层磁珠车载用(低速信号线用,高速信号线、麦捷微:通用磁珠和大电流磁珠;
4、TDK:一般等级信号线°,低直流电阻,高频噪声抑制,超高频噪声抑制);
从电路使用上看有信号线用和电源线用之分,再着有普通、高频、超高频、低直流电阻之分。
所谓普通磁珠和高频磁珠,可参考如下阻抗-频率曲线MHz的阻抗值会比较高。
2、要考虑线路上的峰值电流和磁珠的DCR值,过大的峰值电流和磁珠DCR,会导致磁珠上的压降过大,导致电压跌落。3、尽量选在电源上使用的磁珠,其电流大、阻抗-频率曲线、电源线上使用磁珠,要增加去耦电容。(磁珠的感性区会抑制线:某产品某IC上的电源3.3V使用磁珠隔离,额定电流200mA,某IC的最低电源不低于3.0V。
3、根据实际的需求,选阻抗大的,曲线A的磁珠,符合正常要求。但是,在上电瞬间流过该磁珠的电流有3A,那就也许会出现过热或磁饱和,在磁珠上产生很大压降,导致后面电路异常,甚至磁珠烧毁。
1、在电源线路上使用,要考虑DCR的值,避免压降过大,也要考虑线路峰值电流是否会超过磁珠的额定电流。
2、考虑直流偏置引起的磁珠阻抗降低,尽量选用电源型的磁珠(随着偏置电流的增大,磁性材料会出现饱和的特性,导致L降低,因此导致工作区域的偏移,会影响到干扰噪声的抑制效果)
例子3:在辐射摸底测试时,网口PHY的25MHz时钟倍频出现辐射超标,频率是125MHz,250MHz等。在25MHz信号线MHz不要处于磁珠的感性区和容性区)2、25MHz是有用信号,磁珠的低频阻抗尽量低。
3、要实测有用信号经过磁珠的信号幅度及波形,磁珠上的感性和寄生电容会发生谐振的,导致幅度或波形异常。(过冲或幅度偏低)
4、配合对地电容,测试效果比较好。磁珠和电容容值要计算适合,最重要实际测试波形。
例子1:简单地说,就是有个数字模块的地与主系统的地通过磁珠连接。在测试ESD时,设备就复位重启。拆掉磁珠,直接短接,测试ESD pass。
静电重在疏而不是堵。例子2:某款蓝牙音箱,对外露的USB端口进行接触放电,音箱断电断电没有办法进行工作。因为USB的金属外壳是与系统地直接连接的,把系统地完整性弄好和电源加TVS管,有改善但没解决。因此,直接在USB金属壳与系统地直接串了磁珠,静电测试通过。
这个案子是直接采用堵的方法。由于板子的layout和结构不一样,采用疏或堵要具体考虑。
例子3:某工业产品的售后机器上,经分析串在电源输入上的磁珠烧毁。产品的电电源是24V 0.3A,选的磁珠是1A的,单从规格降额上看没问题。在现场测试电源端口的信号,有幅值很高的连续脉冲干扰。
该磁珠长时间处于高幅值干扰下,会发热,散热不好的话,磁珠会不断升温,导致烧毁。
该磁珠主要用来滤除高频干扰,解决办法是把磁珠改为共模电感(电源和地接法)。
例子4:某控制管理系统产品在现场测试遇到干扰死机。采用模拟干扰信号的方法来分析,用电压脉冲模拟干扰信号,直接加在温度探头上,会一定概率导致死机,把温度采集模块的模拟地与数字地之间的磁珠换成0R电阻,不会出现死机现象。
由于磁珠的感性,加上脉冲时相当于储能,撤掉脉冲时,会产生反向电动势,导致数字地太高,因此使得系统死机。
有个帖子:进入同一个单片机的不同地线之间不得有磁珠或电感。原因很简单,高幅度的高频噪声可造成地平面间有较高幅值的高频交流电,单片机内部压差很可能超过极限,在高可靠性产品(军用以及航空)中是很危险的。
2、过流会直接引发磁珠烧毁开路。3、磁珠一致性不好,参数达不到规格要求,导致过流或过热后烧毁。


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